精達專利介紹

2019-08-24    click: 4867

哈爾濱精達測量儀器有限公司近期獲得多項發明專利。


1.發明專利：一種消除智能齒輪雙面嚙合測量儀中“標準齒輪”引入誤差的方法:

齒輪雙面嚙合綜合測量”方法控制齒輪精度，以其具有儀器結構簡單、

測量效率高、測量結果直觀反映齒輪嚙合質量等優點，在國內外的齒輪生產中得到上百年的應用。雖然lSO及各國齒輪標準中都規定了齒輪徑向綜合誤差的精度等級，但在實際應用中除注塑齒輪行業外，大部金屬齒輪很少以徑向綜合誤差評價齒輪精度等級。這是由于雙嚙測量在實際應用中很難達到測量結果的重復精度，儀器之間由于結構、測量速度、測力等因素造成測量結果不一致而缺少比對性。同時，雖然雙嚙測量規定“標準齒輪”比被測齒輪高兩個精度等級，但是標齒輪仍存在誤差，這樣在雙嚙測量時，標準齒輪與被測齒輪存在峰-谷、谷-峰、谷-谷、峰-峰等各種情況，這種情況造成徑向雙嚙曲線首尾不封閉，每次測量結果相位不同，測量結果Fi″相差0.01～0.03mm之多，fi″由于標準齒輪齒形齒向及相嚙合齒輪的相互影響，變化也較大。

哈爾濱精達發明專利 “一種消除齒輪雙面嚙合測量儀中標準齒輪標準齒輪引入誤差的方法” 徹底改變了這種現狀，該方法利用計算機數控智能雙嚙儀的特點，遵循齒輪共軛原理，在不特殊增加高精度標準元件的基礎上，達到了以下三個目標：

1）解決了雙面嚙合測量，高精度標準齒輪的問題，經過標底的和被測齒輪同精度等級的齒輪，可以完全代替高精度標準齒輪；

2）解決了雙嚙測量結果測量重復精度差的問題，任意相位測量，Fi″、fi″測量重復精在0.001～0.003mm，提高了一個數量級；

3）為利用雙嚙儀進行齒輪齒厚（“M”值、檢測半徑等）測量奠定了基礎。

2.發明專利：一種齒輪測量中心的直角校準塊布局方法、坐標標定方法和調整方法

哈爾濱精達測量儀器有限公司授權發明專利“一種齒輪測量中心的直角塊布局方法，坐標標定方法和坐標測量方法”（專利號：201710418135.3），主要包括兩個方面的內容，一是在儀器測量行程之外設置間接固定屬性的基準塊，在儀器更換測頭時進行標定的方法，二是利用漸線誤差特性，在儀器出廠時確定基準塊位置的方法。 

這項技術是精達建立的齒輪測量中心的核心技術之一，從精達生產的第一天齒輪測量中心開始，到目前幾千臺的市場擁有量，正是該項技術的支撐，解決了齒輪測量中心坐標建立最基礎的難題，也是市場反應精達齒輪量儀好用易用的一項關鍵技術，特別是與早期齒輪測量中心所采用的TESA雙向電感測微測頭匹配，發揮了最大優勢，代表了中國齒輪測量中心的一個時代。

隨著技術的進步，采用片簧結構的多維數字測頭得到廣泛應用，學習了國外齒輪測量中心方式，雖然通過其他方式（如球校對器）預先標定測頭數據存盤，建立測頭庫等方式成為可能，我們也不排斥國外的方式。但精達認為，無論對TESA電感測頭，還是我們最新采用的多維數字測頭，本專利的方法仍然具有儀器制造和客戶操作簡單方便，對測頭測針制造安裝要求低，及時糾正測頭誤操作造成的測頭中心位置變化帶來的誤差等諸多優點。所以精達將堅持使用這項技術，并進一步提升技術，提高儀器出廠時“基準快”的固有屬性的精度。

  雖然該項技術在精達內部應用近20年，但因為該技術僅涉及儀器制造及我公司對用戶設備的精度調試。對于任何一個在精達工作過的技術人員甚至生產工人都會使用。但是該技術之前從未對外公開，這也是這次發明專利能夠順利授權的關鍵所在。
  一些公司挖走精達的人員，帶走了精達從儀器結構設計圖紙、軟件基層基礎、生產調式工藝，包括本專利在內的全部技術，理直氣壯、肆無忌憚的侵權，惡意競爭，并制造“是非”攻擊精達公司。

我們敢說：國內齒輪測量中心行業，以本專利方式組建齒輪測量中心的產品，均是采用的精達技術。

本公司保留以法律程序維護公司利益的權力。

3.發明專利：一種全自動分齒控制齒輪M値測量儀

近年來，由于齒輪測量中心的普及，齒輪的主要誤差項目齒形、齒向及齒距得到更好的控制，齒輪加工、測量精度得到較大的提高。



但是隨著齒輪精度的提高，很多人認識到齒輪除了以上主要幾項精度指標外，齒輪的“齒厚”更是影響齒輪傳動質量的一項重要的指標，也就是說齒形、齒向、齒距加工精度提高，并不能完全保證齒輪傳動的質量（傳動的平穩、噪聲、壽命等）的提高。“齒厚”是齒輪的重要參數但并不是齒輪的精度指標，控制“齒厚”是以Fr徑向跳動、“公法線”、“M”值（MKD或MKR）等誤差項目來間接進行評價的，在早期，這些誤差項目是使用簡單量具完成測量，效率和精度低不能很好應用。遺憾的是，齒輪測量中心以單測頭方式從測量原理上就決定了并不適合解決評價齒厚的幾項誤差項目的測量（與定義不符，影響因素太多），即使徑向跳動可以以左右齒距計算，進而計算出“公法線”，“M”值，但得到的結果往往甚至沒有以量具測量的準確，數據只能參考，并不能比對應用。正因為測量手段的原因，感覺行業只重視齒形齒向等精度的提高而有意回避齒厚的控制，但是隨著行業的進步，越來越多的客戶對齒厚控制提出要求。

我們認為：解決方案有兩種方式，一是利用雙嚙儀通過擴展概念、提升硬件技術，通過“標定”引進“檢測半徑”的概念評價“齒厚”情況，精達前期發明專利“一種消除齒輪雙面嚙合測量儀中標準齒輪引入誤差的方法”是解決測量一致性技術，是“標定”的前提條件。第二種方法就是本發明專利“一種全自動分齒控制齒輪M值測量儀”的嘗試，力圖從徑向跳動、“M”值的定義出發，利用新的測量原理和最新的控制技術，提供一臺全自動、快速的測量儀，作為齒輪測量中心的補充和配套量儀產品，測量更精確，真正為行業齒輪生產水平的提高服務。在這里還想說明一點，本專利測量的是國外早已應用的概念MKR，以MKR作為“M”值的評價相比MKD更為科學，因為半徑與齒輪的回轉中心相關，MKD是以手動、普通量具測量的，是沒有辦法的辦法。

4.發明專利：一種以齒輪雙面嚙合測量組建的新型半自動多工位齒輪分選機及其操作方法



精達發明專利 “一種以齒輪雙面嚙合測量組建的新型半自動多工位齒輪分選機及其操作方法”公開了一種新型半自動分選機，精達推出相應產品JQ型齒輪分選機。該分選機以齒輪雙面嚙合測量儀為基礎，設立圓盤多工位，以完成齒輪的清理、測量、打標等工序，人工上下料（被測齒輪），以電子指示測量結果“合格”、“超差”、“可修”等狀態，或進行“M”值分組，與單臺齒輪雙面測量儀相比，對人員技術要求大大降低，檢驗人員只要不是“色盲”即可操作。測量效率得到極大提高、操作維護簡單。適合批量齒輪生產中的檢驗，更適合中小齒輪廠家的應用。

5.關于“齒輪測量中心多維式測頭”的實用新型和外觀專利：

齒輪測量中心多維測頭增加“測頭功能指示”，通過在測頭前端設置LED指示燈，可更清晰、動態、直觀表示測量儀工作狀態，減少人員在測量過程中被動等待結果的不良感覺，實時監控測量過程，減少誤判，避免誤操作儀器硬件的損壞，提升整體儀器的造型效果。